MOS管(金屬氧化物半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管)作為現(xiàn)代電子電路的核心元件，其內(nèi)部結(jié)構(gòu)中天然存在的寄生二極管(體二極管)對電路性能具有雙重影響。這一特性在高頻開關(guān)電源、電機驅(qū)動、電池保護等場景中尤為關(guān)鍵，既可能引發(fā)誤操作或能量損耗，也能通過合理設(shè)計實現(xiàn)反向保護、續(xù)流等功能。本文將從物理特性、正向/反向?qū)C制、應(yīng)用場景及設(shè)計優(yōu)化等維度展開分析。

一、寄生二極管的物理成因與方向性

寄生二極管源于MOS管制造工藝中的PN結(jié)結(jié)構(gòu)：

N溝道MOS管：源極(S)與襯底(B)短接，漏極(D)與襯底形成PN結(jié)，二極管方向為S→D。

P溝道MOS管：結(jié)構(gòu)相反，二極管方向為D→S。

不可控性：寄生二極管的導(dǎo)通僅由電壓極性決定，與柵極(G)控制無關(guān)。例如，當(dāng)NMOS管的漏極電壓低于源極電壓(V_DS < -0.7V)時，二極管自動導(dǎo)通，形成反向電流路徑。

二、正向?qū)ㄌ匦耘c壓降優(yōu)化

柵極電壓對壓降的影響：

當(dāng)V_GS=0時，寄生二極管正向壓降與普通二極管一致(約0.7V)。

當(dāng)V_GS>V_th(閾值電壓)時，MOS管導(dǎo)通，電流路徑從溝道通過，此時壓降由導(dǎo)通電阻R_DS(on)決定(V_SD=I_D×R_DS(on))。例如，某NMOS管R_DS(on)=2mΩ，承載10A電流時壓降僅0.02V，遠低于二極管導(dǎo)通壓降。

應(yīng)用場景：

同步整流：在開關(guān)電源中，用MOS管替代肖特基二極管可降低導(dǎo)通損耗。例如，48V輸入的DC-DC轉(zhuǎn)換器中，同步整流可將效率從92%提升至96%。

低壓大電流場景：如電池放電電路，MOS管的低導(dǎo)通電阻可減少發(fā)熱，延長設(shè)備續(xù)航。

三、反向?qū)ㄌ匦耘c電路保護

反向電動勢抑制：

在驅(qū)動感性負載(如電機、繼電器)時，寄生二極管為電感斷電產(chǎn)生的反向電動勢提供泄放路徑。例如，某繼電器線圈電感為10mH，斷電時電流變化率di/dt=100A/μs，若無續(xù)流二極管，反向電壓可達1000V(V=L×di/dt)，足以擊穿MOS管。寄生二極管將電壓鉗位在0.7V左右，保護電路安全。

防反接設(shè)計：

單MOS管方案：利用NMOS的寄生二極管實現(xiàn)防反接。當(dāng)電源正負極接反時，二極管導(dǎo)通，但MOS管因V_GS=0保持截止，避免短路。需注意此時二極管需承受全部反接電流，需選擇額定電流足夠的MOS管(如IRF540N，額定電流33A)。

背靠背MOS管方案：采用兩個NMOS管反向串聯(lián)，利用溝道導(dǎo)通替代二極管，可將導(dǎo)通壓降從0.7V降至毫歐級，適用于大電流場景(如電動汽車充電模塊)。

四、寄生二極管引發(fā)的電路問題與優(yōu)化

誤操作風(fēng)險：

反向電流誤判：在電池充電電路中，若僅通過檢測V_DS判斷MOS管狀態(tài)，反向電流可能導(dǎo)致誤判為導(dǎo)通狀態(tài)。解決方案：增加?xùn)艠O驅(qū)動信號監(jiān)測，或采用背靠背MOS管徹底阻斷反向路徑。

死區(qū)時間損耗：在H橋電機驅(qū)動中，上下管切換時的死區(qū)時間內(nèi)，寄生二極管導(dǎo)通會導(dǎo)致電流畸變和額外損耗。優(yōu)化方法：通過軟件控制縮短死區(qū)時間，或選用反向恢復(fù)時間(t_rr)短的MOS管(如SiC MOSFET，t_rr<50ns)。

可靠性挑戰(zhàn)：

雪崩擊穿：當(dāng)寄生二極管承受反向電壓超過其雪崩擊穿電壓(V_BR(DSS))時，可能引發(fā)永久性損壞。設(shè)計時需留有安全裕量，例如選擇V_BR(DSS)=60V的MOS管用于48V系統(tǒng)。

熱失控：在持續(xù)大電流反向?qū)▓鼍跋?，二極管功耗(P=V_F×I)可能導(dǎo)致結(jié)溫升高，引發(fā)惡性循環(huán)。解決方案：增加散熱片或采用并聯(lián)MOS管分流。

MOS管的寄生二極管既是電路設(shè)計的“雙刃劍”，也是實現(xiàn)特定功能的關(guān)鍵元件。通過深入理解其物理特性、導(dǎo)通機制及影響規(guī)律，工程師可在保護電路、優(yōu)化效率與控制成本之間取得平衡。